试验项目 (Test Items) | 试验条件 (Test Condition) | 引用标准 (Test Standard) | 判断标准 (Acc/Re) |
预处理 Percondition | Bake: 125℃,24h Soak:85℃/85%RH,168hrs 30℃/60%RH,192hrs Reflow: 260℃，3times | JESD22-A113H J-STD-020E | 0/1 |
高温贮存 High TEMP. Storage | 150℃ 500/1000 hours | JESD22-A103 | 0/1 |
温度循环 Temp. Cycles | -65℃～150℃, 30min/cycle 500 /1000Cycles | JESD22-A104 | 0/1 |
稳态恒温恒湿试验 TEMP. &HUMI. | 85℃,85%RH 500/1000hrs | JESD22-A101 | 0/1 |
高温反偏 High TEMP. Reverse Bias | 125℃，80 %Vrwm 168hrs | GB/T4937-1995 第III篇第5B条 | 0/1 |
高压蒸煮 Pressure Cooker | 121℃，100%RH，2atm 96hrs | JESD22-A102 | 0/1 |
耐焊接热 Solder Resistance | 260±5 ℃, 10（+2/-0）S | JESD22-B106-D | 0/1 |
可焊性 Solder ability | 235±5℃，2±0.5s | SJ /10745-1996 第2.5条方法b | 0/1 |
可跟我司相关负责人预约：测试预约电话：029-81121100 / 0755-29601859
特性测试：
电子器件的特性测试主要是测试电子元器件的外观、尺寸、电性能、安全性能等;
根据元器件的规格书测试基本参数，如二极管，要测试VBR、VF、IR、ESD等项目.
测试项目 | 测试设备 |
Reverse Breakdown Voltage-- VBR | 数字存储晶体管特性图示仪 |
Reverse Leakage Current --IR | 数字存储晶体管特性图示仪 |
Peak Pulse Current--IPP | 雷击浪涌发生器 |
Clamping Voltage--VC | 雷击浪涌发生器 |
ESD per IEC 61000-4-2 (Contact)--ESD ESD per IEC 61000-4-2 (Air)--ESD | 静电放电发生器 |
Junction Capacitance--CJ | LRC数字电桥 |
可跟我司相关负责人预约：测试预约电话：029-81121100 / 0755-29601859
测试项目 | 测试设备 |
Reverse Breakdown Voltage-- VBR | 数字存储晶体管特性图示仪 |
Reverse Leakage Current --IR | 数字存储晶体管特性图示仪 |
Peak Pulse Current--IPP | 雷击浪涌发生器 |
Clamping Voltage--VC | 雷击浪涌发生器 |
ESD per IEC 61000-4-2 (Contact)--ESD ESD per IEC 61000-4-2 (Air)--ESD | 静电放电发生器 |
Junction Capacitance--CJ | LRC数字电桥 |
可跟我司相关负责人预约：测试预约电话：029-81121100 / 0755-29601859