设备名称：高加速寿命试验箱

设备型号：PC-422R8

试验温度：105.0~133.3℃/100%RH

110.0~140.0℃/85%RH

湿度范围：20 to 98%RH，±2.5%RH

温度控制精度：±0.5℃

温度控制精度：±3%RH（at85%RH)

适用对象：半导体器件HAST试验